Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda de la ciencia japonesa zsx primus III

Ciencias japonesasEspectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda¡¡ wdxrf de alto rendimiento para el análisis cuantitativo rápido de elementos!

ZSX Primus III+

La ciencia zsx primus III + ofrece una rápida determinación cuantitativa de los elementos atómicos principales y secundarios, desde el oxígeno (o) hasta una amplia gama de tipos de muestras con estándares mínimos para el uranio (u).

Sistema óptico de iluminación superior altamente confiable

Zsx primus III + tiene una nueva configuración óptica de iluminación superior en el campo. Los usuarios ya no tienen que preocuparse por la contaminación de la ruta o el tiempo de parada debido al mantenimiento de la Sala de muestras. La geometría iluminada elimina las preocupaciones de limpieza y aumenta el tiempo.

Posicionamiento de muestras de alta precisión

El posicionamiento de muestras de alta precisión garantiza una distancia constante entre la superficie de la muestra y el tubo de absorción X. Esto es muy importante para aplicaciones que requieren alta precisión, como el análisis de aleaciones. Zsx primus III + realiza análisis de alta precisión con una configuración óptica única para reducir los errores causados por superficies no planas en muestras como el baht electrostático y las hojas de prensado.

Software de parámetros básicos sqx y software de escaneo ez

Los usuarios pueden analizar muestras de ubicación sin ninguna configuración previa utilizando el software de escaneo ez. Esta característica de ahorro de tiempo solo necesita hacer clic en el ratón e introducir el nombre de la muestra. Combinado con el software de parámetros básicos sqx, proporciona rápidamente los resultados de radiofrecuencia más precisos. Qx es capaz de corregir automáticamente todos los efectos matriciales, incluido el superposición de líneas. El sqx también puede ayudar a corregir los efectos de excitación a través de fotoelectrones (elementos ligeros y ultraligeros), entornos cambiantes, impurezas y diferentes tamaños de muestra. Utilice la Biblioteca de coincidencia y el programa de análisis de escaneo perfecto para mejorar la precisión.

Features

Análisis de elementos de o a u

óptica iluminada para minimizar la contaminación

Pequeña superficie ocupada para ahorrar espacio de laboratorio

Posicionamiento de muestras de alta precisión

La óptica especial reduce los errores causados por la superficie curvada de la muestra

Herramientas de software para el control de procesos estadísticos (spc)

Optimizar la tasa de fuga de evacuación y vacío para mejorar el rendimiento