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Correo electrónico
nsf@nsfcn.com
- Teléfono
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Dirección
No. 65 Shuanggao road, Distrito de gaochun, ciudad de nanjing, Provincia de Jiangsu
Categorías de producto
- Analizador integrado de múltiples elementos
- Serie de analizadores infrarrojos de carbono y azufre
- Analizador rápido de carbono y silicio frente al horno
- Serie de Analizadores de medición conjunta de carbono y azufre
- Analizador de medición conjunta de múltiples elementos por computadora
- Serie de Analizadores de alta velocidad de microcomputadoras
- Serie de analizadores rápidos inteligentes
- Serie de aditivos y accesorios especiales
- Serie de microscopios metalográficos
- Serie de espectrómetros
Nanjing Fourth Analysis Instrument co., Ltd.
Microscopio metalográfico vertical xjl - 02a
NegociableActualización en10/27
- modelo
- Naturaleza del fabricante
- Productores
- Categoría de producto
- Lugar de origen
Descripción general
Parámetros técnicos principales del microscopio metalográfico vertical xjl - 02a: descripción de las características clave del instrumento: características principales del microscopio metalográfico vertical xjl - 02a: la distancia focal negativa (f = 33 mm) se utiliza en el sistema óptico del microscopio metalográfico vertical xjl - 02a, y el ocular fotográfico y el sistema de observación binocular adoptan el diseño de campo plano al mismo tiempo, con ventajas planas y claras.
Detalles del producto
Microscopio metalográfico vertical xjl - 02a
Principales parámetros técnicos:
Descripción de las características clave del instrumento:
Microscopio metalográfico vertical xjl - 02a
Características principales:
El sistema óptico del microscopio metalográfico vertical xjl - 02a utiliza una distancia focal negativa (f = 33 mm), y el sistema de observación ocular y binocular utiliza un campo plano para diseñar el campo de visión, que tiene las ventajas de ser plano y claro. Este producto tiene las funciones de campo de visión brillante, campo de visión oscuro, polarización, proyección y comparación de granos, y puede ser utilizado por unidades de investigación científica generales, fábricas y escuelas para pruebas de metalografía y metalografía.
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