Detalles de la multifuncionalidad combinada de la serie ultima IV del difractómetro de rayos x:

I. introducción al instrumento

Multifuncional combinadoXDifractómetro de rayos XUltima IVLa serie es un polvo multifuncional de alto rendimientoXDifractómetro de rayos x, que utiliza la Ciencia *.CBOSistema óptico cruzado, un instrumento puede realizar desde muestras de polvo comunes hastaIn-PlanePrueba de muestras de película delgada interna. Con una estructura combinada, se pueden realizar diversas pruebas a través de diferentes combinaciones de cada unidad.

II. parámetros técnicos

1. XLa Potencia del generador de rayos es3KW

2. El medidor de ángulo es un medidor de ángulo horizontal.

3. El goniómetro Zui da pequeños pasos como1 / 10.000Grado

4. El goniómetro está equipado con una ranura variable programática.

5. Monocromador de grafito con alta eficiencia de reflexión

6. CBOCaminos ópticos cruzados, que proporcionan caminos ópticos enfocados y caminos ópticos paralelos de alta intensidad y alta resolución (banda)Mirror) (el neo - confucianismo es único)

7. Componente de prueba de dispersión de ángulo pequeño

8. Componentes de prueba de película multipropósito

9. Componentes de prueba de microzona

10. In-PlaneComponentes de prueba (únicos en ciencias)

11. Detector de alta velocidadD/teX-Ultra

12. XDifractividad de rayos X- -Dispositivo de medición simultánea del medidor de calor de escaneo diferencialXRD-DSC

13. El software de análisis incluye:XRDPaquetes de software de análisis,NANO-SolverPaquetes de software,GXRRPaquetes de software, etc.

III. principales características

Multifuncional combinadoXDifractómetro de rayos XUltima IVSerie, que se puede utilizar ampliamente en varios campos del análisis de la estructura de varios materiales.

Los materiales que se pueden analizar incluyen: materiales metálicos, materiales inorgánicos, materiales compuestos, materiales orgánicos, nanomateriales, materiales superconductores.

Los Estados de los materiales que se pueden analizar incluyen: muestras de polvo, muestras de bloques, muestras de película delgada, muestras de microregión

Las principales aplicaciones son:

1. Análisis cualitativo y cuantitativo de la fase física de las muestras de polvo

2. Calcular el grado de cristalización y el tamaño del grano

3. Determinar el sistema de cristal, el tamaño del grano y la distorsión

4. RietveldAnálisis estructural

5. Análisis de muestras de película delgada, incluyendo fase de película delgada, espesor de película multicapa, rugosidad de la superficie, densidad de carga eléctrica

6. In-PlaneEl dispositivo puede medir simultáneamente la estructura de la dirección vertical de la muestra y la estructura de la dirección de profundidad de la muestra.

7. Dispersión de ángulo pequeño y distribución del tamaño de las partículas de nanomateriales

8. Análisis de muestras de microzona