Serie dkdil / dktma expandedor térmico de baja temperatura / analizador termomecánico

DKDIL/DKTMAserieExpandedor térmico de baja temperatura / analizador termomecánico

- - temperatura mínima medible 4K

DKDIL/DKTMAEl sistema de expansión térmica / maquinaria térmica a baja temperatura adopta la tecnología de medición del desplazamiento de expansión térmica Europea importada original y el original. Se pueden analizar y medir las propiedades físicas de los materiales a baja temperatura de - 269 ° c, que satisfacen la industria militar, la industria aeroespacial, la industria del vidrio, la industria cerámica, la sinterización de cerámica de alta tecnología, la industria del polvo metalúrgico metálico, la investigación y el desarrollo de nuevos materiales, la industria automotriz, la industria de polímeros, etc. La expansión térmica se aplica principalmente a la investigación y desarrollo y control de calidad de materiales sólidos, líquidos, polvo y pasta. El sistema cumple con las normas internacionales Din 51045, ASTM e831, ASTM E 228 y ASTM D 3386.

Parámetros técnicos de DILRango de temperatura:- 263... RT / 220 ° c (sistema de baja temperatura de enfriamiento directo sin enfriador de helio líquido)









- 150... 400 ° c (nitrógeno líquido)









Cuerpo del horno de alta temperatura (rt - 1200 / 1600 / 1750 / 2400 ℃)Sistema de medición:Barra única y dobleLongitud de la muestra:
0 <L≤50 mmDiámetro de la muestra:
7 mm / 12 mm / 14 mm / 20 mm / personalizadoRango de medición:
0-5000 μm (±2500 μm)Resolución:0,125 nm/dígitoAmbiente:Oxidación, reducción, atmósfera inerte
Parámetros técnicos de ctmaModo de operación:Expansión lineal, expansión corporal, compresión, flexión de tres puntos, estiramiento de película y fibraRango de temperatura:

- 263... RT / 220 ° c (sistema de baja temperatura de enfriamiento directo sin enfriador de helio líquido)









- 150... 400 ° c (nitrógeno líquido)









Temperatura ambiente. .1750 ° CAlcance de la prueba:± 2
Mm; detección automática de la longitud de la muestraCarga máxima:3500mNResolución absoluta:± 0,2 nmVelocidad de escaneo de temperatura:0 ~ 100 ℃ / minTasa máxima de enfriamiento:
50/100 ℃/min
Tamaño de la muestra:
H 20 mm * Φ10 mm真空度:
10E-2 mbar.Ambiente de prueba:Dinámico (flujo) o estáticoSoftware de análisis:Software de operación en chino e inglésSe puede combinar con FTIR y ms del espectrómetro infrarrojo de Ft